普通方块电阻测试仪FT-332
发布时间： 2024-04-29 20:14:52 点击： 3107
FT-332普通方块电阻测试仪
参照标准：
1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
双电组合测试方法：
利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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规格型 |
FT-332 |
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1.方块电阻范围 |
10-4～2×105Ω/□ |
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2.电阻率范围 |
10-5～2×106Ω-cm
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测试电流范围
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10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
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4.电流精度 |
±0.2%
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5.电阻精度 |
≤0.3% |
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6.显示读数 |
液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 |
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7.测试方式 |
普通单电测量 |
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8.工作电源 |
输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
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9.误差 |
≤4%（标准样片结果） |
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10.选购功能 |
选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻 |
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11.测试探头 |
探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针 |
