FT-333四探针电阻率测试仪
发布时间： 2024-04-29 15:41:36 点击： 786
FT-333四探针电阻率测试仪
一. 描述：
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
二.参照标准：
硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
FT-333四探针电阻率测试仪
